XRD spektrometre, ultraviyole ışından daha kuvvetli olan ancak gamma ışınından daha zayıf enerji kullanılarak elde edilen analiz türüne verilen isimdir. XRD geniş kullanım alanı sayesinde günlük hayatınızda büyük bir yer kaplar. Birden farklı test ve analiz desteğinde kullanılabilen XRD spektrometre endüstriyel alanda büyük bir etkiye sahiptir.
XRD genel olarak iki gruba ayrılır. Tek kristal X-ray difraksiyonu genelde fizikçiler tarafından kullanılan ve onların ilgi alanlarına uyum sağlayan bir yöntemdir. XRD’nin diğer kolu ise X-ray difraksiyonu olarak adlandırılır. XRD difraksiyonu ile yapılan test ve incelemelere ait sonuçları anında grafiksel anlamda inceleyebilirsiniz.
X-ray difraksiyonu kendi içinde iki kısma ayrılır. Birinci kısımda kayaç analizi, ikisinde ise kil analizi yapılabilir. X-ray difraksiyonu yapılırken üç ayrı çekim sistemi kullanılır. Bunlar normal çekim, glikollü çekim ve ısıtılarak yapılan çekim olarak adlandırılır.
XRD birden farklı üretim alanında kullanılarak işlemin doğru ve kaliteli bir şekilde yapılmasına olanak sağlar. Bunun yanı sıra birçok kalite kontrol alanında, yeni ilaç faz gelişmelerinde ve polimerde yaşlanma süreçlerinin incelenmesinde etkin rol oynar.
XRD Kullanım Alanları
- Metal ve alaşım analizleri
- Seramik ve çimento sanayisi
- Kayaçların ve minerallerin tanımlanması
- İnce film kompozisyonu tayininde
- Polimer analizi
- Tarihi yapıları oluşturan malzemeleri tayin etmede
- İlaç endüstrisinde bazı malzemelerin içinde yer alan polimorf ve safsızlıkları tespit ederken
XRD’de Numunenin Önemi
Yeterli sayıda kristalin ve kristal yönlenmelerinin analize dahil edilmesi ve en doğru sonuçlara ulaşılması için öğütme yapılarak işleme başlanır. Öğütme aşaması doğru veriler elde etmek için yapılması gereken adımlardan biridir.
XRD sayesinde öğütme ve piklerin daha keskin olması sağlanır. Sonuçların doğru şiddet ve yapıda elde edilmesini sağlayarak işinizi kolaylaştırır. Seçimli yönlenmelerden gelen hataları azaltarak daha kusursuz bir işlem yapılmasına yardımcı olur. Numuneyi sıkıştırma işlemi yaparak seçimli yönlenmelerin önüne geçilmesini sağlar.
XRD ile yapılan numune incelemelerinde birden farklı detay numuneyi doğrudan etkiler. İşlem yaptığınız tanecik miktarı, dağılımı, sertlik/yumuşaklık, kalınlık ve incelik gibi detaylar öğütme süresini etkiler. Aynı zamanda tanecik yapısına göre öğütme işleminin hızı da artıp azalabilir.